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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀

產(chǎn)品型號(hào)：WK3255B

更新時(shí)間：2024-08-19

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀
頻率范圍 20Hz - 200kHz（3255BL）
頻率范圍 20Hz - 500kHz（3255B）
頻率范圍 20Hz - 1MHz（3255BQ）

產(chǎn)品特性Product characteristics

       專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由原安捷倫Agilent技術(shù)工程師——堅(jiān)JET和泰克Tektronix用戶工程師——融YOO于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測(cè)試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀特點(diǎn)
頻率范圍 20Hz - 200kHz(3255BL)
頻率范圍 20Hz - 500kHz(3255B)
頻率范圍 20Hz - 1MHz(3255BQ)
0.1% 基本量測(cè)精確度
DC Bias(直流偏壓) 高可到125A(Option)
可內(nèi)建1Amp或2Amp DC Bias 
多頻率自動(dòng)測(cè)試模式
多點(diǎn)DC Bias掃頻功能
涵蓋各式測(cè)量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質(zhì)因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
人性化直覺(jué)式操作介面,簡(jiǎn)單易懂
測(cè)試結(jié)果列印
可透過(guò)IEEE488連線控制
在線圈產(chǎn)品的檢測(cè)領(lǐng)域中，Wayne Kerr 一直是，各地也**WK產(chǎn)品的精準(zhǔn)度、功能性及其優(yōu)良的*，3255B電感分析儀亦承襲了以上所有優(yōu)勢(shì)。
運(yùn)用新科技，結(jié)合所需的量測(cè)功能，3255B不但是一臺(tái)有高精準(zhǔn)度、高效率且多功能的產(chǎn)品，它優(yōu)惠的價(jià)格所提供的成本效益，更是市場(chǎng)上其他產(chǎn)品所*。

使用電源230 V AC ±10% ,115 V AC ±10%
頻率50/60 Hz
耗電量150VA
顯示幕高亮度 LCD
試接點(diǎn)BNC 接頭 X 4
測(cè)試線4線式(Kelvin)

穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀參數(shù)指標(biāo)
量測(cè)參數(shù)L, Z, Rdc, C, Q, D, Rac and Angle
頻率范圍20 Hz to 200kHz/ 3255BL ,500 kHz/3255B ,1MHz/3255BQ
量測(cè)電壓/電流1 mV to 10 V 50 mA to 200 mA
直流偏壓1 mA to 1 A
量測(cè)速度4 (20/sec. Max)
量測(cè)范圍
R 0.01 mOhms - > 2GOhms 
L 0.01 nH - > 100 H 
C 5 fF - > 1 F

基本量測(cè)速度
L/Rac/Z/Cp ±0.25% 
Q ±0.25 (Q+1/Q)% 
D ±0025 (1+ D2) 
Turns ratio ±0.25% 
Rdc ±0.5%

穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀WK3260
頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
0.1% 基本量測(cè)精確度
DC Bias(直流偏壓) 高可到125A(Option)
內(nèi)建1Amp DC Bias
多頻率自動(dòng)測(cè)試模式
多點(diǎn)DC Bias掃頻功能
可直接畫出加上Bias時(shí)各參數(shù)之曲線圖.具掃頻功能
可接Mesco view, Factory view軟件
涵蓋各式測(cè)量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(質(zhì)量因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比

可透過(guò)IEEE488連線控制
量測(cè)參數(shù)L,Z,Rdc,C,Q,D,Rac,Angle
頻率范圍20 Hz to 3 MHz Option
頻率波段>1000
量測(cè)電壓/電流1 mV to 10 V ,50 uA to 200 mA
內(nèi)建式直流偏壓電流1 mA to 1 A
絕緣測(cè)試(選購(gòu))100 V, 200 V, 500 V
量測(cè)速度4 off (25/sec max)
量測(cè)范圍
R 0.01 mOhm to > 2 GOhms 
L 0.1 nH to >1000H 
C 5 fF to > 1 F

基本量測(cè)速度
L/Rac/Z/Cp ±0.25% 
Q ±0.25 (Q+1/Q)% 
D ±.0025 (1+ D2) 
Turns ratio ±0.25% 
Rdc ±0.5%