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上海堅融實業(yè)納米新材料研究測試方案

日期：2014-06-13瀏覽：1681次

納米技術(shù)日益成為科學技術(shù)向前發(fā)展趨勢的主導技術(shù)。納米級科學和工程將基礎(chǔ)研究和教育的進步，電子和光電器件的進步以及半導體制造、生物技術(shù)、替代能源和工業(yè)制造的顯著變化。上海堅融實業(yè)有限公司致力于納米新材料研究測試方案，使用吉時利6430型亞fA程控源表Measures currents with 400aA (400x10-18A是負18次方安培，也就是亞安) Sensitivity ，采用4 線連接至碳納米管進行測量。

測量這些材料的一種zui常用的測量技術(shù)是使用 4 線或 “Kelvin” 測量。采用 Kelvin 測量技術(shù)時，需要第二組探頭用于感測。因為這些探頭中的電流可忽略不計，所以只用測量 DUT 兩端的壓降。因此，電阻測量或 I-V 曲線發(fā)生就更準確了。

在器件開發(fā)過程中，類似納米線、碳納米管和納米晶體的結(jié)構(gòu)常常表現(xiàn)出與眾不同的特點。分析這些特點而不損壞*的結(jié)構(gòu)需要能對源進行嚴格控制的系統(tǒng)，以防止器件自發(fā)熱。吉時利測量儀器將這種嚴格控制與超快測量速度和靈敏度結(jié)合在靈活、模塊化的結(jié)構(gòu)中從而很容易適應(yīng)不斷變化的測試要求。

吉時利4200-SCS型半導體特性分析系統(tǒng)中的吉時利交互式測試環(huán)境 (KITE) 允許任何納米科學領(lǐng)域的研究人員培養(yǎng)輕松、快捷地配置測量測試的能力。KITE 是一款用于納米材料和器件以及半導體器件特性分析的應(yīng)用程序。測試中的源和測量功能由源測量單元(輸出并測量直流電壓和電流的電子儀器) 提供。測試能力的擴展可以通過各種外部組件的支持實現(xiàn)。這是碳納米管 I-V 測試的設(shè)置范例以及單壁碳納米管的 I-V 掃描結(jié)果。

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